Title

Statistical Lifetime Estimation for Electrical Power Apparatus due to Electrical and Thermal Stresses

Authors

H. Hirose

Source

IEEE DEI Fukuoka Chapter Invited Lecture, November 11, 2013, Fukuoka, Japan.

Abstract

　電気機器の寿命予測についてはこれまで数多くの議論がなされている。なぜ今更と思われるかもしれない。しかし、温度劣化にしろ、電圧劣化にしろ、物理的なモデルは確立されているように見えて実は曖昧な面もあり、経験則や観測データをもとにして予測を立てているのが現状であると思われる。例えば、電気劣化による絶縁破壊は寿命を明確に定義するが、温度劣化による寿命の考え方はあまりはっきりしていない。従って、寿命予測を行なうときもしっかりした土台に立っての議論なのかよく分かっていない。そこで、ここでは温度劣化に焦点をあて一定温度のもとでの寿命の確率分布の取り扱いについて解説する。特に、劣化を表す微分方程式をいくつか示し、それをもとにした確率分布を紹介する。パンデミックなどは物理現象とは無関係のように思われるが、劣化と成長モデルとの対比を考えることで他分野とのアナロジーも考えられる。アレニウスの法則を組み合わせた寿命予測方法や、高い予測精度が得られる実験法についても解説する。
　確率統計の基本的なところから始め、絶縁体の寿命の物理、最適試験法と段々実務レベルに話しを移していき、パンデミックなどのトピックスも入れる。
　電気関係に携わる学生（学部、大学院）、企業実務者、企業研究者、教員など広い聴衆を対象とした解説を考える。

Key Words

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